主要論文の全文紹介

S. Iwata and A. Ishizaka: "Electron Spectroscopic analysis of the SiO2/Si system and correlation with metal-oxide-semiconductor device characteristics," Appl. Phys. Rev. (J. Appl. Phys.), 79(9), 6653-6713(1996).




この論文は、私が会社で行なってきた研究のかなりの部分を解説した論文で、今書いている論文「私の問題解決の考え方」でもっとも多く引用されています。


https://box.yahoo.co.jp/guest/viewer?sid=cbox-l-oaqdgopnentii5mwigip5u6tsi-1001&uniqid=e9c1e8f6-4433-4399-8f0f-e50e355f0b90&viewtype=detail

apr paper 1996